В ТУСУРе создаётся отечественный профилометр, необходимый при производстве микроэлектроники

https://www.rlocman.ru/news/new.html?di=668077 К 2026 году в ТУСУРе разработают установку для измерения параметров поверхности полупроводниковых пластин.

Задача прибора – контроль шероховатости и рельефа поверхности полупроводниковых пластин, измерение высоты и составление 3D-карты профиля топологии...